4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials & Devices,
ALC '03, October 5 - 10, 2003, Kauai, Hawaii, USA

" High Resolution Auger Depth Profiling by Sub-keV Ion Sputtering "
M. Inoue1, R. Shimizu2, H.I. Lee3 and H.J. Kang3
1Department of Electric & Electronics Engineering, Setsunan University, Japan
2Faculty of Information Science & Technology, Osaka Institue of Technology, Japan
3Department of Physics, Chungbuk National University, Korea,(15分32秒)

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2003年10月にハワイ州カウアイ島で「新材料新デバイスの原子レベル分析 国際会議, ALC '03」が開催されました。写真は こちら

このビデオの音声部分は,Mac OSX ver.10.4 Tiger の say コマンド(読み上げソフト)を使ってテキストファイルから合成したものです。( Kathy voice )

Sound of this video was synthesized from text file by "say" command of Mac OSX ver.10.4 Tiger ( Kathy voice )

2003.10 摂南大学 工学部 電気電子工学科 井上雅彦

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