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  Development of C60 Cluster Ion Gun / Oxygen Effect on the Ion-induced Secondary Electron Spectra

第4回 実用表面分析国際シンポジウム, PSA-07,(ポスター講演者のための1分間 ショートプレゼンテーション 2件)
P-41 摂南大学 大学院 工学研究科 表面物性工学研究室 修士課程2年 入江 優
P-42 摂南大学 大学院 工学研究科 表面物性工学研究室 修士課程1年 井上公介, (2007.11.25-28,石川県立音楽堂,金沢)(1分34秒)

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4th International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-07, 2007.11.25-28, Kanazawa
" P-41 Development of C60 Cluster Ion Gun with Rotating Field Mas Filter "
Suguru IRIE*, Tomoyuki Arima, and Masahiko INOUE

" P-42 Oxygen Effects on the Secondary Electron Emission from Si Surface Induced by Low Energy He+ and Xe+ Ions "
Kousuke INOUE*, Shinji TEMMA, and Masahiko INOUE

Poster No.P-41 presented by Suguru IRIE
Poster No.P-42 presented by Kousuke INOUE

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