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  Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method

第5回 実用表面分析国際シンポジウム, PSA-10,(ポスター講演者のための1分間 ショートプレゼンテーション )
P-001 摂南大学 大学院 工学研究科 表面物性工学研究室 修士課程2年 宮川拓也, 
(2010.10.03-07,ホテル現代 慶州,韓国)(撮影に失敗し,残念ながら 8秒だけ。)

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5th International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-10, 2010.10.03-07, Hotel Hyundai, Geongju, Korea
" P-001 Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method "
T. MIYAGAWA*, M. INOUE, T. Iyasu, Y. Hashimoto, K. Goto, R. Shimizu, and T. Nagatomi


Poster No.P-001 presented by Takuya MIYAGAWA (M2)
 
講演会場の様子。もう一部屋あってパラレルセッションでした。
 
1分間ショートプレゼンの様子(M2 宮川氏)

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